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Grenzwerte für Strahlungsdosis von Halbleiterbauelementen bei Röntgenstrahlungsbelastung

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Grenzwerte für Strahlungsdosis von Halbleiterbauelementen bei Röntgenstrahlungsbelastung

Liebe GUS-Mitglieder,

im DKE 682.0.7 wird momentan das Thema Einfluss der Röntgenstrahlung auf die Lebensdauer bzw. Schädigung von Bauelementen diskutiert. Da es sich um ein Umweltsimulationsthema handelt, könnten GUS-Mitglieder wichtige Hinweise auf

- veröffentlichte Untersuchungen,

- Gremien oder Einrichtungen, die sich mit dem Thema beschäftigen oder

- persönliches Engagement/Erfahrung auf diesem Gebiet

haben und diese mit dem Normungsgremium des DKE teilen dürfen/wollen.

Interessenten und Engagierte, die Informationen für diese IEC-Recherche beisteuern wollen, setzten sich bitte direkt in Verbindung mit: 

Dr.-Ing. Helmut Schweigart
ZESTRON Europe ... a business division of Dr. O.K. Wack Chemie GmbH
Tel.: + 49 (0) 841 / 635 - 29
eMail.: Diese E-Mail-Adresse ist vor Spambots geschützt! Zur Anzeige muss JavaScript eingeschaltet sein!